Neue JEOL Rasterelektronenmikroskope

JEOL erweitert kontinuierlich seine Produktpalette für Rasterelektronenmikroskope.

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Freising, 29. Januar 2016 – JEOL als einer der führenden Hersteller von elektronenoptischen Geräten, Analytischen Instrumenten und Geräten zur Probenpräparation erweitert kontinuierlich seine Produktpalette für Rasterelektronenmikroskope. JEOL JSM-IT100 InTouchScope™
Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs.
Das JEOL JSM-IT100 ist die neueste Entwicklung in der preisgekrönten InTouchScope Rasterelektronenmikroskop-Baureihe. Das IT100 setzt die seit 50 Jahren bestehende technologische Führungsrolle von JEOL auf dem REM-Markt fort und stellt dabei ein einfach zu bedienendes vielseitig einsetzbares Forschungs-REM in ergonomischer Kompaktausführung dar. Mit seinen erneut verbesserten EDS-Analysefunktionen ist das InTouchScope ein vielseitig einsetzbares „Arbeitspferd“ der Rasterelektronenmikroskopie, das konfiguriert werden kann, um individuelle Laboranforderungen zu einem außergewöhnlich günstigen Preis zu erfüllen. Es verfügt über höchste Bildauflösung und eine weiten Bereich kontinuierlich einstellbarer Beschleunigungsspannungen sowohl im Hochvakuum- als auch im Niedervakuum-Modus. Das IT100 ist ein außergewöhnlich intuitives Mikroskop mit hohem Durchsatz, das entwickelt wurde, um Laborarbeitsabläufe zu optimieren. Die Eingabe erfolgt über TouchScreen-Bedienung oder für erfahrene REM-Anwender ist auch ein klassisches Bedienpult verfügbar. Durch die schnelle Datenerfassung werden Aufnahmen und Analysen von Proben zu einfachen Aufgaben. Dank automatischer Parameter-Optimierung können mit dem IT100 schnell und einfach Sekundär- und Rückstreuelektronen-Bilder aufgenommen werden. Das integrierte JEOL EDS-System mit SDD-Technik umfasst spektrales Mapping, Mehrpunktanalyse, automatische Driftkompensation, Linien-Scans und Filterfunktionen für Elementverteilungsbilder. Zur beliebten InTouchScope-Baureihe von JEOL gehören das NeoScope Tisch-REM mit wählbarem HV/LV-Modus und das JSM-IT300LV mit erweiterten Analysefunktionen und großer Probenkammer. JEOL JSM-7200F – Allround-FEG-REM mit hoher Auflösung und intuitiver Bedienung
Das FEG-REM JSM-7200F deckt einen breiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht dabei den einfachen Einstieg in die Welt der Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie. Beim neuen JSM-7200F wird dank der patentierten In-Lens Schottky-Plus-Technology vor allem bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung (1,6 nm bei 1 kV) erreicht und zugleich kann ein hoher Probenstrom von über 300nA erzeugt werden. Zu den wesentliche Merkmalen des neuen JSM-7200F zählt:
  • Perfekte Auflösung
  • Auflösung von 1,6 nm bei 1 kV bzw. 1,2 nm bei 30 kV.
  • Schnelle Analytik
  • Maximaler Probenstrom von über 300 nA für schnelle Analytik (EDS, WDS, EBSD oder SXES) bei hoher Ortsauflösung.
  • In-Lens-Energiefilter
  • Das TTL-Detektionssystem (Trough The Lens) ermöglicht die Energie-gefilterte Abbildung von In-Lens-Elektronen. Dadurch kann zwischen der Detektion von Sekundär- und Rückstreu-Elektronen stufenlos variiert werden.
  • Großflächige Analytik
Mit Hilfe des LDF-Modus (Large Depth of Field) können großflächige EBSD- Mappings aufgenommen werden ohne die Stage zu bewegen. Zudem können sehr hohe Objekte ohne dynamische Fokuseinstellung vollständig scharf abgebildet werden. Kontakt:
JEOL (Germany) GmbH
Gute Änger 30
85356 Freising
Deutschland
E-Mail: info(at)jeol.de Weitere Informationen finden Sie auch im Internet unter www.jeol.de